半导体分立器件环境试验 试验方法GJB 128A-1997
通信设备环境试验 通信设备检测 GJB 367A-2001
微电子器件环境试验 GJB 548B-2005 MIL-STD-883H-2010
电工电子产品环境试验 GB/T 2423.2-2008和IEC 60068-2-27:2008
轨道交通/铁路车辆用电子设备环境可靠性试验
IP防护等级试验 GB4208-2008/IEC 60529:2001
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